特許
J-GLOBAL ID:201103080177225123

異常陰影候補検出システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-172229
公開番号(公開出願番号):特開2001-346786
特許番号:特許第4163370号
出願日: 2000年06月08日
公開日(公表日): 2001年12月18日
請求項(抜粋):
【請求項1】 被写体の画像に基づいて、該画像中の異常陰影候補を検出する異常陰影候補検出手段を有する異常陰影候補検出システムにおいて、 前記異常陰影候補検出手段に入力される前記被写体の画像が、該被写体に対して互いに異なる少なくとも2つの方向から撮影してそれぞれ得られた2以上の画像であり、 前記2以上の画像間の、前記被写体についての各位置の対応関係を、2つの基準位置からの距離の比に基づいて求める画像間対応位置算出手段をさらに備えるとともに、 前記異常陰影候補検出手段が、前記2以上の画像について各別に検出した異常陰影候補のうち、前記画像間対応位置算出手段により求められた前記対応関係に基づいて、前記被写体についての略同一位置において検出された異常陰影候補のみを、確定的な異常陰影候補として検出するものであることを特徴とする異常陰影候補検出システム。
IPC (3件):
A61B 6/00 ( 200 6.01) ,  A61B 6/02 ( 200 6.01) ,  G06T 1/00 ( 200 6.01)
FI (4件):
A61B 6/00 330 Z ,  A61B 6/00 350 D ,  A61B 6/02 351 Z ,  G06T 1/00 290 A
引用特許:
審査官引用 (3件)

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