特許
J-GLOBAL ID：201103080208354024
スキャンフリップフロップ及び半導体集積回路装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
金田 暢之 (外2名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-387781
公開番号（公開出願番号）：特開2003-156540
特許番号：特許第3535855号
出願日： 2001年12月20日
公開日（公表日）： 2003年05月30日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 通常のフリップフロップとして動作する通常動作機能と、試験用のパターン信号であるスキャンイン信号をデータ入力とし、試験用のクロックであるスキャンクロックによりフリップフロップとして動作するスキャンテスト動作機能とを備えたスキャンフリップフロップであって、通常動作時に入力データを所定のクロックに同期して一時的に保持し、スキャンテスト動作時に前記スキャンイン信号を第1のスキャンクロックに同期して一時的に保持するマスターラッチ回路と、通常動作時に前記マスターラッチ回路で保持された信号を前記クロックに同期して出力し、スキャンテスト動作時に前記マスターラッチ回路で保持された信号を第2のスキャンクロックに同期して出力するスレーブラッチ回路と、外部から入力される第1の切換信号にしたがって、前記マスターラッチ回路及び前記スレーブラッチ回路を、前記クロックの立上がりエッジに同期してデータを出力するポジティブフリップフロップまたは前記クロックの立下りエッジに同期してデータを出力するネガティブフリップフロップのいずれか一方に設定するための第1の制御信号を生成し、外部から入力される第2の切換信号にしたがって、前記マスターラッチ回路及び前記スレーブラッチ回路を前記通常動作または前記スキャンテスト動作のいずれか一方に切り換えるための第2の制御信号を生成するクロック回路と、を有するスキャンフリップフロップ。
IPC (1件)：
FI (1件)：
前のページに戻る
