特許

J-GLOBAL ID：201103081678247212

表示方法、変調分析器及び試験装置

発明者： カイル・エル・バーナード ,  シャオフェン・チェン ,  トーマス・エル・カンツ
出願人/特許権者： テクトロニクス・インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 山口 邦夫 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-082466
公開番号（公開出願番号）：特開平11-331882
特許番号：特許第3529295号
出願日： 1999年03月25日
公開日（公表日）： 1999年11月30日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 複素平面におけるI軸及びQ軸に沿い、且つ上記Q軸に平行な線に沿って延びるバンド内に入るシンボル指示点の配列表示を行う方法であって、上記指示点の座標を処理して、選択された基準に応じて上記指示点に適する曲線を発生し、該曲線を上記複素平面内に表示することを特徴とする表示方法。

IPC (2件)：

H04N 17/00 ,  H04L 27/02

FI (2件)：

H04N 17/00 C ,  H04L 27/02 A

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特表平7-509828