特許
J-GLOBAL ID:201103081740769131

真円度測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 藤谷 修
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-174747
公開番号(公開出願番号):特開2001-066132
特許番号:特許第4487387号
出願日: 2000年06月12日
公開日(公表日): 2001年03月16日
請求項(抜粋):
【請求項1】 回転軸にて回転可能に支持された工作物と一体成形され、前記回転軸から偏心した円筒の真円度を測定する真円度測定装置であって、 前記円筒の外周面と当接して外周面を滑動し、前記円筒の半径を三点接触法により測定する三点接触式測定器と、 前記真円度測定装置に対する前記回転軸の相対位置xを測定する位置測定手段と、 前記円筒の前記回転軸に垂直な断面上の円周に沿って前記三点接触式測定器を接触移動させる手段であって、砥石台に回動可能に設けられた第1ピボットと、一端において、前記第1ピボットに支持されて回動可能に設けられた第1アームと、前記第1アームの他端に回動可能に設けられた第2ピポットと、一端において、前記第2ピボットに支持されて回動可能に設けられた第2アーム上腕と、前記第2アーム上腕に設けられ、前記三点接触式測定器が設けられた第2アーム下腕と、を有し、前記相対位置xの変化に連動して前記三点接触式測定器を姿勢を変化させながら前記円筒に対して接触移動させる測定器滑動手段と、 前記円筒の前記回転軸周りの回転角ψを測定する回転角測定手段と、 前記回転軸の周りを回転する前記円筒の真円度を前記相対位置x、前記回転角ψ、及び、前記三点接触式測定器の出力値yより算出する真円度演算手段と、 前記円周の中心又は中心付近に位置する原点Oと、この原点Oを始点とする所定の原線OCとを持ち、前記円周が座標平面上に固定された2次元極座標を用いて、前記円周上における前記出力値yの測定点pの位置座標(r,θ)を表現し、前記測定点pにおける前記出力値yの測定時の前記相対位置x、前記回転角ψ、及び、前記測定器滑動手段の姿勢に係わる構造を表す諸定数の集合Λより前記角度座標θを求める変数変換「θ=f(ψ,x,Λ)」を用いて、前記円周上の各前記測定点pにおける前記出力値yを前記角度座標θの関数y(θ)として求める変数変換手段と、 を有することを特徴とする真円度測定装置。
IPC (6件):
G01B 21/30 ( 200 6.01) ,  B23Q 17/22 ( 200 6.01) ,  B24B 49/04 ( 200 6.01) ,  G01B 5/00 ( 200 6.01) ,  G01B 5/28 ( 200 6.01) ,  G01B 21/00 ( 200 6.01)
FI (6件):
G01B 21/30 101 Z ,  B23Q 17/22 A ,  B24B 49/04 A ,  G01B 5/00 F ,  G01B 5/28 101 ,  G01B 21/00 F
引用特許:
審査官引用 (7件)
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