特許
J-GLOBAL ID：201103081784562992
プリント基板の配線検査方法、検査装置、及び配線パターン生成装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
矢島 保夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-008813
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206171
特許番号：特許第4079296号
出願日： 1999年01月18日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 プリント基板の配線検査装置を用いた配線検査方法において、
前記配線検査装置が備えるCADデータ入力手段が、プリント基板のCADデータから、該プリント基板の差動信号線路の配線パターンの位置情報を入力するステップと、
前記配線検査装置が備える解析座標生成手段が、前記位置情報から、検査対象の配線パターンである差動信号線路の+信号線上の信号の伝播方向に沿って所定配線長間隔で解析座標A1、A2、A3、...を生成し、同様にして、-信号線上の信号の伝播方向に沿って前記+信号線での所定配線長と同じ配線長間隔で解析座標B1、B2、B3、...を生成するステップと、
前記配線検査装置が備える角度比較手段が、+信号線及び-信号線の入力点または出力点から同じ配線長にある解析座標の点A1とB1とを結んだ直線L1を求め、次に同じ配線長にある解析座標の点A2とB2とを結んだ直線L2を求め、同様にして+信号線及び-信号線の同じ配線長にある解析座標の点AnとBnと(n=1、2、3、...)を結んだ直線Lnを全て求め、それらの各直線Lnと前記+信号線及び-信号線とが作る角度θn1とθn2(θn1は直線Lnと前記+信号線とが作る角度を表し、θn2は直線Lnと前記-信号線とが作る角度を表す)をそれぞれ算出し、前記各直線Ln毎にそれらの角度θn1とθn2とを比較するステップと、
前記配線検査装置が備える位相差検出手段が、該比較の結果に基づいて、前記θn1とθn2とがθn1≠θn2となる区間を検出することにより、+信号と-信号の位相差を生じる区間を検出するステップと
を備えたことを特徴とする配線検査方法。
IPC (4件)：
G01R 31/02 ( 200 6.01)
, G06F 17/50 ( 200 6.01)
, G01B 21/02 ( 200 6.01)
, H05K 3/00 ( 200 6.01)
G01R 31/02
, G06F 17/50 668 M
, G01B 21/02 Z
, H05K 3/00 T
