特許
J-GLOBAL ID:201103082127592896
X線成分計測装置
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
青木 篤
, 鶴田 準一
, 伊坪 公一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-173447
公開番号(公開出願番号):特開2011-024773
出願日: 2009年07月24日
公開日(公表日): 2011年02月10日
要約:
【課題】複数のエネルギー帯のX線を用いて測定対象の成分を計測できるとともに、測定対象に応じて識別すべきエネルギー帯を容易に変更できるX線成分計測装置を提供する。【解決手段】X線発生器10から照射されたX線は、計測対象30を透過して、X線検出器20に入射する。X線検出器20は、量子計数方式の検出器であって、予め設定された2個以上のしきい値で区切られたエネルギー帯のX線量子数を計数する。X線検出器20により計数されたX線量子数に基づいて3種類以上の成分比を算出することができる。しきい値は、測定対象に応じて変更でき、しきい値を3個以上にとると、4種類以上の成分比を算出することができる。【選択図】図2
請求項(抜粋):
計測対象にX線を照射するX線発生器と、
前記計測対象を透過したX線が入射するX線検出器であって、予め設定された2個以上のしきい値で区切られたエネルギー帯のX線量子数を計数する画素を有するX線検出器と、
前記計数されたX線量子数に基づいて3種類以上の成分比を算出する成分比算出手段と、
を備えることを特徴とするX線成分計測装置。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (28件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001BA12
, 2G001CA01
, 2G001DA08
, 2G001DA09
, 2G001EA03
, 2G001FA03
, 2G001FA06
, 2G001GA01
, 2G001GA06
, 2G001JA04
, 2G001JA09
, 2G001KA01
, 2G001KA03
, 2G001KA11
, 2G001LA01
, 2G001LA05
, 2G001LA11
, 2G001MA05
, 2G001PA11
, 2G001SA02
, 4C093AA01
, 4C093CA16
, 4C093DA06
, 4C093EA07
, 4C093FD09
, 4C093FF25
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