特許
J-GLOBAL ID：201103082260102770

光位相変調器および光位相変調装置

発明者：
喜瀬 智文

喜瀬 智文 について

, 
舟橋 政樹

舟橋 政樹 について


出願人/特許権者：
古河電気工業株式会社

古河電気工業株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-167703
公開番号（公開出願番号）：特開2011-022390
出願日： 2009年07月16日
公開日（公表日）： 2011年02月03日
要約：
【課題】半導体の光吸収により生じる直交成分による周波数チャーピングの影響を低減することができる光位相変調器および光位相変調装置を提供する。【解決手段】光変調器100は、使用波長における初期位相差がπの第1及び第2のメインアーム光導波路11a,11bを有するメインマッハツェンダ干渉計11と、第1のメインアーム光導波路11aに形成された使用波長における初期位相差が0の第1及び第2のサブアーム光導波路21a,21bを有する第1のサブマッハツェンダ干渉計21と、第2のメインアーム光導波路に形成された使用波長における初期位相差が0の第3及び第4のサブアーム光導波路22a,22bを有する第2のサブマッハツェンダ干渉計22とを有する。各メインアーム光導波路および第1乃至第4のサブアーム光導波路のうち、少なくとも高周波電極が形成された部分は、半導体光導波路からなる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
それぞれ第1の高周波電極および第2の高周波電極を有し使用波長における初期位相差 がπである第1のメインアーム光導波路及び第2のメインアーム光導波路を有するメイン マッハツェンダ干渉計と、 前記第1のメインアーム光導波路に形成され、それぞれ第3の高周波電極および第4の 高周波電極を有する使用波長における初期位相差が0である第1のサブアーム光導波路お よび第2のサブアーム光導波路を有する第1のサブマッハツェンダ干渉計と、 前記第2のメインアーム光導波路に形成され、それぞれ第5の高周波電極および第6の 高周波電極を有する使用波長における初期位相差が0である第3のサブアーム光導波路お よび第4のサブアーム光導波路を有する第2のサブマッハツェンダ干渉計と、 を有し、 前記第1、第2のメインアーム光導波路および前記第1乃至第4のサブアーム光導波路の うち、少なくとも前記第1乃至第6の高周波電極が形成された部分が半導体基板上に形成 された半導体光導波路からなる2値光位相変調器。
IPC (3件)：
G02F 1/025 ,  G02F 1/015 ,  G02B 6/12
FI (3件)：
G02F1/025 ,  G02F1/015 502 ,  G02B6/12 J
Fターム (41件)：
2H079AA02 ,  2H079AA12 ,  2H079BA03 ,  2H079CA04 ,  2H079DA16 ,  2H079DA22 ,  2H079DA25 ,  2H079EA05 ,  2H079EA07 ,  2H079EA08 ,  2H079EB04 ,  2H079FA02 ,  2H079FA03 ,  2H079GA03 ,  2H079HA11 ,  2H079JA05 ,  2H079JA07 ,  2H079KA20 ,  2H147AB11 ,  2H147AC01 ,  2H147BB01 ,  2H147BE01 ,  2H147BE03 ,  2H147CC07 ,  2H147CD01 ,  2H147CD02 ,  2H147DA12 ,  2H147EA12A ,  2H147EA12B ,  2H147EA12C ,  2H147EA13C ,  2H147EA14A ,  2H147EA14B ,  2H147EA35A ,  2H147FA04 ,  2H147FA21 ,  2H147FC05 ,  2H147GA00 ,  2H147GA10 ,  2H147GA25 ,  2H147GA29
引用特許：
審査官引用 (4件)
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