特許
J-GLOBAL ID：201103082274914904
粒度分布測定装置及び粒度分布測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
八木 秀人 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-098408
公開番号（公開出願番号）：特開2001-281127
特許番号：特許第3375319号
出願日： 2000年03月31日
公開日（公表日）： 2001年10月10日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 レーザ光源から出射されたレーザ光を測定空間に存在する被測定粒子に照射して発生させた散乱光を、光電変換素子からなるセンサが同心円状に複数配列された受光センサで集光し、前記散乱光の散乱角に対応する光強度分布信号を前記受光センサに接続された信号処理部で処理して、解析部で粒度分布を算定する構成の粒度分布測定装置において、前記測定空間が、前記レーザ光源の前方に配置されたレンズと該レンズと対峙するように配置された反射鏡の間に形成されるとともに、前記レーザ光が平行光に変換されて前記測定空間中に入射される「入射測定光」と該入射測定光が前記反射鏡で反射して前記レンズ側に戻ってくる「反射測定光」の少なくとも一方を前記被測定粒子に照射することにより前記散乱光を形成し、該散乱光を前記レンズで屈折させて前記受光センサで集光することを特徴とする粒度分布測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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