特許
J-GLOBAL ID：201103082704566000
電子部品のインピーダンス測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
筒井 秀隆
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-221995
公開番号（公開出願番号）：特開2001-050995
特許番号：特許第3402274号
出願日： 1999年08月05日
公開日（公表日）： 2001年02月23日
請求項（抜粋）：
【請求項1】4端子法により電子部品のインピーダンスを測定する装置において、電子部品の一方の電極に接続される電流印加線と電圧検出線とが第1の抵抗器RH1を介して接続され、電子部品の他方の電極に接続される電流印加線と電圧検出線とが第2の抵抗器RL1を介して接続され、上記第1および第2の抵抗器RH1, RL1は電子部品の電極と電流印加線および電圧検出線との間に生じる接触抵抗RHC, RLC, RHP, RLPより十分に大きい抵抗値を有し、上記電子部品の一方の電極と第1の抵抗器RH1との間の電流印加線に第3の抵抗器RH3が接続され、上記電子部品の他方の電極と第2の抵抗器RL1との間の電流印加線に第4の抵抗器RL3が接続され、上記第3,4の抵抗器RH3,RL3は第1,第2の抵抗器RH1, RL1よりも抵抗値が十分小さく、電子部品の電極と電流印加線および電圧検出線との間に生じる接触抵抗RHC, RLC, RHP, RLPより十分に大きく、かつ互いに異なる抵抗値を有することを特徴とする電子部品のインピーダンス測定装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01R 27/02 A
, G01R 27/02 R
