ジッタ測定装置及び方法、並びにこのジッタ測定装置を備えた半導体集積回路試験装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：草野卓 , 稲垣稔
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-540385
特許番号：特許第3609780号
出願日： 2000年11月16日
請求項（抜粋）：

【請求項1】クロック信号を発生するクロック発生手段と、入力される高速の繰り返し信号を上記クロック信号によってサンプリングしたデータを出力するサンプリング部と、上記サンプリング部からの出力データが供給されるトリガ手段と、このトリガ手段からトリガ信号が与えられたときにのみ上記クロック発生手段から供給されるクロック信号を通過させる間引き手段と、上記サンプリング部からの出力データのうち、この間引き手段から出力されるクロック信号によってサンプリングされたデータのみが供給され、これら供給されたデータのジッタを測定する信号解析手段とを具備することを特徴とするジッタ測定装置。

IPC (3件)：

G01R 29/02 , G01R 13/34 , G01R 31/316

FI (3件)：

G01R 29/02 L , G01R 13/34 B , G01R 31/28 C

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