特許
J-GLOBAL ID：201103083054009212
周波数間測定における測定ギャップの画定
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
石田 敬
, 鶴田 準一
, 下道 晶久
, 西山 雅也
, 樋口 外治
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-563559
特許番号：特許第3682024号
出願日： 2001年02月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】少なくとも1つの基地局および少なくとも1つのワイヤレス端末を備えるワイヤレス電気通信システムにおいて、これら2つの間のデータ転送における測定ギャップが様々な代替的手法で生成可能である、測定ギャップを画定する方法であって、該方法は、前記端末に対して、前記測定ギャップの生成方法を決定する測定パターンパラメータを確定することと、前記測定パターンパラメータを前記基地局を通じて前記端末に送信することとを備える方法において、2つの異なるタイムスロットフレームに連続するタイムスロットによって形成される測定ギャップを備える一意の測定ギャップを、第1および第2のタイムスロットフレームにおける前記測定ギャップが異なる測定ギャップ生成方法で生成されるように、前記端末に対して画定することを特徴とする、測定ギャップを画定する方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04B 7/26 K
, H04J 13/00 D
