特許
J-GLOBAL ID:201103083189094252
GaN半導体結晶成長用Siウエーハ、それを用いたGaN発光素子用ウエーハ及びそれらの製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (2件):
木下 茂
, 高 雄次郎
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-164835
公開番号(公開出願番号):特開2000-351692
特許番号:特許第3748011号
出願日: 1999年06月11日
公開日(公表日): 2000年12月19日
請求項(抜粋):
【請求項1】 CZ法によるSi基板の表面から厚み方向へ少なくとも3μmの間に亘って低酸素濃度で酸素析出物が無く、かつ、表面構造が全面に亘ってダブルステップレーヤとなっており、該Si基板の表面にBP単結晶層が形成されていることを特徴とするGaN半導体結晶成長用Siウエーハ。
IPC (4件):
C30B 29/06 ( 200 6.01)
, C30B 29/38 ( 200 6.01)
, H01L 21/205 ( 200 6.01)
, H01L 33/00 ( 200 6.01)
FI (4件):
C30B 29/06 A
, C30B 29/38 D
, H01L 21/205
, H01L 33/00 C
引用特許:
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