特許
J-GLOBAL ID：201103083412161846
耐候光試験装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-394037
公開番号（公開出願番号）：特開2002-195933
特許番号：特許第3388283号
出願日： 2000年12月26日
公開日（公表日）： 2002年07月10日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 試験槽内に設けた光源を中心として、この周囲に試料ホルダー保持枠を有する耐候光試験装置において、前記光源を格納する二重フィルタ構造のランプハウスのインナーフィルタとアウターフィルタとの空間に、両端の多角形フィルタ枠で、該多角形の辺数と同じ複数枚の各種波長選択性フィルタを挟んでなる多角形筒状フィルタ体を配置し、前記試料ホルダー保持枠の上部円環及び下部円環に、該保持枠の中心に向かって枠の円周を前記多角形フィルタ枠の対角線で分けられる間隔と同じになるように複数本の支持棒を接合し、該支持棒に、上部に上部引掛け金具及び下部に下部引掛け金具を有した金属製の多角形の仕切板を、前記多角形筒状フィルタ体における波長選択性フィルタの割当てに応じて任意に着脱できるようにし、前記多角形筒状フィルタ体に多種類の波長選択性フィルタを設けた際に、同一試験槽内で、一度に異なる分光分布の光にて試験できるようにしたことを特徴とする耐候光試験装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
前のページに戻る
