特許
J-GLOBAL ID:201103083656374361

印刷欠陥検査装置および印刷欠陥検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 木下 實三 ,  中山 寛二 ,  石崎 剛
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-213767
公開番号(公開出願番号):特開2001-038885
特許番号:特許第3800482号
出願日: 1999年07月28日
公開日(公表日): 2001年02月13日
請求項(抜粋):
【請求項1】 印刷物の印刷欠陥を検査するために、前記印刷物の表面を複数の撮像装置で撮像し、得られた検査画像と所定の基準画像とを演算手段で比較演算する印刷欠陥検査装置であって、 前記撮像装置はその撮像範囲が複数の画像区画に分割され、各撮像装置の撮像範囲は少なくとも一つの前記画像区画が重複し、 前記演算手段は、前記画像区画の割当てが基本設定され各画像区画毎に前記比較演算を行う複数の演算部と、前記基本設定と所定の特定マークが位置する画像区画の選択とに基づいて前記各演算部への画像区画の割当ておよび実行処理の割当てを制御する演算処理制御部とを有し、 前記演算処理制御部は、前記選択がされた画像区画に対し前記基本設定で割当てられている前記演算部に前記検査画像と前記基準画像との位相ずれ量の検出を実行させるとともに、他の少なくとも一つの前記演算部への前記画像区画の割当てを前記基本設定に対して変更し、前記位相ずれ量に基づく位相補正を伴う前記検査画像と前記基準画像との比較演算を得られた検査画像の全画像区画について実行させることを特徴とする印刷欠陥検査装置。
IPC (2件):
B41F 33/14 ( 200 6.01) ,  G01N 21/892 ( 200 6.01)
FI (3件):
B41F 33/14 G ,  B41F 33/14 K ,  G01N 21/892 A
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 印刷物検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-212740   出願人:大日本印刷株式会社
  • 特開平3-244543
  • 特開平3-244543
全件表示

前のページに戻る