特許
J-GLOBAL ID:201103083660303983

耐候光性試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-197849
特許番号:特許第3291520号
出願日: 2001年06月29日
請求項(抜粋):
【請求項1】 試験槽内に設けた光源を中心として、当該光源の周囲を回転する円環形試料回転枠を有する耐候光性試験装置において、当該円環形試料回転枠が、(a)中溝穴のある帯板からなる渦巻き状の、直径が自在に可変である試料取付リング、(b)試料取付リングの中央に固着させたガイドブロック、(c)試料取付リングの中溝穴に取付ける手段を有する1以上のガイドブロック、(d)試料取付リングの内側にある支え用リング(e)試料取付リングの外側にある支え用リング、及び、(f)試料取付リングの内側にある支え用リングと試料取付リングの外側にある支え用リングとを半径方向に繋ぎ、かつ、ガイドブロックを摺動可能に取付けた複数のガイドロッドを有することを特徴とする耐候光性試験装置。
IPC (1件):
G01N 17/00
FI (1件):
G01N 17/00
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開平3-221840

前のページに戻る