特許
J-GLOBAL ID:201103083997091880

半導体装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 松本 洋一
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-331844
公開番号(公開出願番号):特開2002-141515
特許番号:特許第4655350号
出願日: 2000年10月31日
公開日(公表日): 2002年05月17日
請求項(抜粋):
【請求項1】第1導電型半導体基板の一方の主面に形成される高濃度の第1導電型の第1半導体層と、他方の主面に形成される高濃度の第2導電型の第2半導体層と、前記第1半導体層と前記第2半導体層に挟まれた前記第1導電型半導体基板内に、前記第1半導体層寄りに、該第1半導体層とは離して形成される複数個の高濃度の第1導電型ストッパ層を有することを特徴とする半導体装置。
IPC (1件):
H01L 29/861 ( 200 6.01)
FI (2件):
H01L 29/91 J ,  H01L 29/91 C
引用特許:
出願人引用 (4件)
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