特許

J-GLOBAL ID：201103084712965412

電磁放射強度検出装置

発明者： デニス・エル・ハイトマン ,  モーレイ・エム・ブロウケ
出願人/特許権者： サイエンティフィック・イメージング・テクノロジーズ・インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 松隈 秀盛
公報種別：特許公告
出願番号（国際出願番号）：特願平1-182336
公開番号（公開出願番号）：特開平2-054578
出願日： 1989年07月14日
公開日（公表日）： 1990年02月23日
請求項（抜粋）：

【請求項1】電荷収集領域の電荷キャリアに電位障壁を形成するバリア領域によって分離された複数の電荷収集領域を有し、与えられたスペクトル領域の電磁放射に応答して電荷キャリアを発生する、半導体材料で成る本体と、該電荷収集領域において、予め定められた電位を設定し、それによって電荷キャリアが該電荷収集領域に累積され得るようにする電極手段と、夫々の電荷収集領域から電荷キャリアを抽出するための複数の出力手段と、を含む電磁放射の強度を検出する装置。

IPC (3件)：

H01L 27/14 ,  H01L 31/09 ,  H01L 31/16 B

FI (2件)：

H01L 27/14 K 7210-4M ,  H01L 31/00 A 7630-4M