特許
J-GLOBAL ID:201103085308368962

原稿オフセット量検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 渡辺 三彦
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-224296
公開番号(公開出願番号):特開2002-044391
特許番号:特許第4099689号
出願日: 2000年07月25日
公開日(公表日): 2002年02月08日
請求項(抜粋):
【請求項1】 原稿を載置する上面の一部に金属蒸着膜が形成された透光性板材と、該透光性板材を介して前記原稿にビーム光を照射するビーム光照射部と、前記ビーム光の反射光を検出する検出部とを備える原稿オフセット量検出装置であって、 前記金属蒸着膜は、前記透光性板材の下方で水平方向に移動する前記ビーム光照射部と前記検出部の移動範囲における前記透光性板材の上面に形成されるとともに、前記ビーム光の一部を透過させ、前記ビーム光の他の一部を反射させ、 前記検出部は、前記ビーム光の前記金属蒸着膜からの反射光と前記原稿からの反射光とを検出し、 前記検出部により検出された前記両反射光の間の距離から前記原稿の前記透光性板材に対するオフセット量を計測することを特徴とする原稿オフセット量検出装置。
IPC (4件):
H04N 1/19 ( 200 6.01) ,  G01B 11/00 ( 200 6.01) ,  G03B 27/62 ( 200 6.01) ,  H04N 1/00 ( 200 6.01)
FI (4件):
H04N 1/04 102 ,  G01B 11/00 B ,  G03B 27/62 ,  H04N 1/00 108 H
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • 特開平3-118532
  • 特開昭64-029059
  • 画像読取装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-106072   出願人:キヤノン株式会社
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