欠陥画素判定方法、欠陥画素判定プログラム、放射線画像検出器及び欠陥画素判定システム

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：荒船博司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-241207
公開番号（公開出願番号）：特開2011-254121
出願日： 2008年09月19日
公開日（公表日）： 2011年12月15日
要約：

【課題】放射線画像検出器の放射線検出素子が欠陥画素か否かを的確に判定することが可能な欠陥画素判定方法、欠陥画素判定プログラム、放射線画像検出器及び欠陥画素判定システムを提供する。【解決手段】2次元状に配置された複数の放射線検出素子(x,y)を備える放射線画像検出器1における欠陥画素判定方法であって、キャリブレーション時に複数回行われたダーク読取及び/又は放射線画像撮影に際して1回以上行われたダーク読取において得られた一の放射線検出素子(x,y)から出力されたダーク読取値dm(x,y)と、予め定められた閾値dmthとを比較し、当該放射線検出素子(x,y)から出力された少なくとも1つのダーク読取値dm(x,y)が閾値dmthよりも大きい場合に、当該放射線検出素子(x,y)を欠陥画素と判定する。【選択図】図11

請求項（抜粋）：

2次元状に配置された複数の放射線検出素子を備える放射線画像検出器における欠陥画素判定方法であって、キャリブレーション時に複数回行われたダーク読取及び/又は放射線画像撮影に際して1回以上行われたダーク読取において一の前記放射線検出素子から出力されたダーク読取値と、予め定められた閾値とを比較し、前記一の放射線検出素子から出力された少なくとも1つのダーク読取値が前記閾値よりも大きい場合に、当該一の放射線検出素子を欠陥画素と判定することを特徴とする欠陥画素判定方法。

IPC (4件)：

H04N 5/335 , A61B 6/00 , H04N 5/30 , H01L 27/14

FI (5件)：

H04N5/335 P , A61B6/00 350Z , H04N5/30 , H01L27/14 K , H01L27/14 Z

Fターム (33件)：

4C093AA01 , 4C093CA50 , 4C093DA06 , 4C093EB12 , 4C093EB13 , 4C093EB17 , 4C093FC17 , 4C093FC22 , 4C093FD03 , 4C093FD07 , 4C093FD09 , 4C093FF19 , 4C093FF34 , 4C093FH02 , 4C093FH06 , 4M118AA07 , 4M118AB01 , 4M118BA05 , 4M118CA03 , 4M118CB05 , 4M118CB11 , 4M118DD09 , 4M118DD10 , 4M118DD12 , 4M118FB09 , 4M118FB13 , 4M118GA10 , 5C024AX16 , 5C024CX22 , 5C024CX23 , 5C024CY47 , 5C024GX02 , 5C024HX29

引用特許：

出願人引用 (6件)

米国特許第5452338号明細書
米国特許第6222901号明細書
米国特許第7041955号明細書

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