特許

J-GLOBAL ID：201103086473130063

電子部品の保持位置検出装置

発明者： 浅井 鎬一 ,  津田 護 ,  武藤 康雄 ,  須原 信介 ,  河田 東輔
出願人/特許権者： 富士機械製造株式会社
代理人 (1件)： 神戸 典和 (外2名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-023803
公開番号（公開出願番号）：特開平8-005335
特許番号：特許第2846829号
出願日： 1989年02月27日
公開日（公表日）： 1996年01月12日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 先端の吸着面により電子部品の一面を吸着して保持する保持具と、前記吸着面に対向する位置に設けられ、紫外線には感光せず、可視光に感光する撮像装置と、前記吸着面に対して、前記撮像装置とは反対側に設けられ、撮像装置に向かって紫外線を放射する紫外線放射装置と、その紫外線放射装置と前記吸着面との間において、前記保持具の全周を囲む状態で設けられ、紫外線放射装置側の面から紫外線を吸収して吸着面側の面から可視光を放射する発光板とを含むことを特徴とする電子部品の保持位置検出装置。

IPC (4件)：

G01B 11/00 ,  B23P 19/00 303 ,  B23Q 17/24 ,  H05K 13/04

FI (4件)：

G01B 11/00 H ,  B23P 19/00 303 A ,  B23Q 17/24 D ,  H05K 13/04 M

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭62-046382
  
• 特開昭60-103700