特許

J-GLOBAL ID：201103087167875370

コンデンサの絶縁抵抗の検査装置および検査方法

発明者： 木下 雅量
出願人/特許権者： ダイキン工業株式会社
代理人 (2件)： 楠本 高義 ,  中越 貴宣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-270932
公開番号（公開出願番号）：特開2011-112582
出願日： 2009年11月30日
公開日（公表日）： 2011年06月09日
要約：

【課題】本発明の目的は、短時間にコンデンサの絶縁抵抗を測定して良否を判定する検査装置および検査方法を提供することにある。【解決手段】検査装置10は、コンデンサ12に直列接続される検査用抵抗r、コンデンサ12と検査用抵抗rに電圧を印加する電源E、検査用抵抗rの両端電圧を測定する電圧計14、絶縁抵抗Rの良否を判定する判定手段16を備える。検査装置20は、コンデンサ12に電圧を印加する電源E、コンデンサ12の両端電圧を測定する電圧計24、絶縁抵抗Rの良否を判定する判定手段26を備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

コンデンサの絶縁抵抗の検査装置であって、 前記コンデンサに直列接続される検査用抵抗と、 前記コンデンサおよび検査用抵抗に対して電圧を印加する電源と、 前記検査用抵抗の両端電圧を測定する電圧計と、 前記検査用抵抗の両端電圧、検査用抵抗の抵抗値、電源の出力電圧を使用して絶縁抵抗の良否を判定する手段と、 を備えた検査装置。

IPC (3件)：

G01R 27/02 ,  G01R 31/00 ,  H01G 13/00

FI (4件)：

G01R27/02 R ,  G01R31/00 ,  H01G13/00 361D ,  H01G13/00 361F

Fターム (13件)：

2G028BB06 ,  2G028CG03 ,  2G028DH03 ,  2G028FK01 ,  2G028FK09 ,  2G028LR05 ,  2G036AA03 ,  2G036AA27 ,  2G036BB02 ,  2G036CA06 ,  2G036CA10 ,  5E082MM37 ,  5E082MM38