測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-325607
公開番号（公開出願番号）：特開2001-141749
特許番号：特許第3956382号
出願日： 1999年11月16日
公開日（公表日）： 2001年05月25日
請求項（抜粋）：

【請求項1】トリガ信号に基づいて測定データの格納を制御する測定装置において、トリガ信号発生前の測定データが繰り返し格納される半導体メモリと、トリガ信号発生後の測定データが格納されるハードディスクとを有し、トリガ信号が出力されるまでのプリトリガ領域では前記半導体メモリへの測定データの格納はメモリアドレス制御器から出力されるメモリアドレスに従って所定の番地間で繰り返して実行し、トリガ信号が発生した後のポストトリガ領域ではハードディスクへの測定データの格納はトリガ信号が発生した時点から所定長さ分の測定データが書き込まれるまでの間だけ間欠的にアクセスすることにより実行することを特徴とする測定装置。

IPC (1件)：