特許
J-GLOBAL ID：201103088216819282
多孔質セラミック部材の欠陥検査方法、多孔質セラミック部材の製造方法、及び、多孔質セラミック部材の欠陥検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
安富 康男
, 古谷 信也
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-192924
公開番号（公開出願番号）：特開2002-014051
特許番号：特許第4030252号
出願日： 2000年06月27日
公開日（公表日）： 2002年01月18日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 多孔質セラミック部材に存在する欠陥の検出を行う欠陥検査方法であって、前記多孔質セラミック部材は、長手方向に並設された多数の貫通孔と該貫通孔同士を隔てる隔壁とを備え、前記貫通孔の一端部に、市松模様に充填材が充填され、他端部には、前記一端部に充填材が充填されていない貫通孔に充填材が充填された柱状の多孔質セラミック部材であり、
前記隔壁と前記充填材との間に存在する欠陥の検出は、前記多孔質セラミック部材の一端から前記多孔質セラミック部材の貫通孔に平行になるように光を照射し、前記多孔質セラミック部材の他端部に漏洩してくる光の有無を検出することにより行うことを特徴とする多孔質セラミック部材の欠陥検査方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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