特許
J-GLOBAL ID:201103089004447454

保磁力分布磁石の保磁力特定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  石川 滝治
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-148746
公開番号(公開出願番号):特開2011-007512
出願日: 2009年06月23日
公開日(公表日): 2011年01月13日
要約:
【課題】保磁力分布磁石を切り刻む等することなく、当該保磁力分布磁石内部の部位ごとの保磁力を精度よく特定することができ、もって精度のよい品質保証を実現することのできる保磁力分布磁石の保磁力特定方法を提供する。【解決手段】本発明の保磁力特定方法は、保磁力分布磁石の表面磁束密度を測定して減磁曲線を作成するステップ、減磁曲線から、平均保磁力、最低保磁力、角型性、を特定するステップ、平均保磁力と角型性との相間を用いて、最低保磁力と任意に設定された最高保磁力の間の保磁力差分量を複数設定し、平均保磁力と角型性から最適な保磁力差分量を特定し、最高保磁力を特定するステップ、最高保磁力と、最低保磁力、平均保磁力、から保磁力分布磁石内における保磁力分布グラフを特定し、該保磁力分布磁石の任意箇所における固有の保磁力を特定するステップ、からなる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
保磁力の相違する複数の領域からなる保磁力分布磁石において、該領域ごとに固有の保磁力を特定する、保磁力分布磁石の保磁力特定方法であって、 被特定対象の前記保磁力分布磁石の減磁曲線を作成する第1のステップ、 前記減磁曲線から、前記保磁力分布磁石の平均保磁力、最低保磁力、および、保磁力分布状態を表す指標である角型性、を特定する第2のステップ、 平均保磁力と角型性との相間、もしくは最低保磁力と角型性との相間、のいずれか一方を用いて、保磁力分布磁石内の前記最低保磁力と任意に設定された最高保磁力の間の保磁力差分量を複数設定し、前記第2のステップで特定された前記最低保磁力もしくは前記平均保磁力と前記角型性から最適な前記保磁力差分量を特定し、該最低保磁力および該最適な保磁力差分量から最高保磁力を特定する第3のステップ、 前記最高保磁力と、前記最低保磁力と、前記平均保磁力と、から前記保磁力分布磁石内における保磁力分布グラフを特定するとともに、該保磁力分布磁石の任意箇所における固有の保磁力を該保磁力分布グラフから特定する第4のステップ、からなる、磁石の保磁力特定方法。
IPC (1件):
G01R 33/12
FI (1件):
G01R33/12 M
Fターム (3件):
2G017BA16 ,  2G017CA04 ,  2G017CB18

前のページに戻る