特許
J-GLOBAL ID：201103089611082570
コンタクタ及びコンタクタを使用した試験方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊東 忠彦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-191405
公開番号（公開出願番号）：特開2002-005992
特許番号：特許第4467721号
出願日： 2000年06月26日
公開日（公表日）： 2002年01月09日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 絶縁基板と、
該絶縁基板に設けられ、該絶縁基板の表面から厚み方向に延在する凹部と、
該凹部に収容された弾性材で形成された複数の導電性粒子と
を有し、
該導電性粒子の一部が前記絶縁基板の表面から突出していることを特徴とするコンタクタ。
IPC (3件)：
G01R 31/26 ( 200 6.01)
, G01R 1/073 ( 200 6.01)
, H01L 21/66 ( 200 6.01)
G01R 31/26 J
, G01R 1/073 B
, H01L 21/66 B
