特許

J-GLOBAL ID：201103089679223954

位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、およびプログラム

発明者： 藤木 真和
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-043064
公開番号（公開出願番号）：特開2011-179910
出願日： 2010年02月26日
公開日（公表日）： 2011年09月15日
要約：

【課題】距離画像から対象物体の位置姿勢を算出する位置姿勢算出の精度低下を防ぎながら処理速度を維持向上させる。【解決手段】対象物体までの距離画像を取得する取得部と、距離画像から対象物体の概略位置姿勢を決定する概略位置姿勢決定部と、形状モデル上の所定領域に対応する、距離画像における領域の距離情報のばらつきの程度を示すばらつき値を算出する算出部と、ばらつき値が小さい程、サンプル点の数が少なくなるように、形状モデル上の所定領域ごとに当該所定領域からサンプル点をサンプリングするサンプリング部と、概略位置姿勢からサンプル点と距離画像上の2次元計測点を3次元座標に変換した3次元計測点とを対応付ける対応付け部と、各サンプル点と各3次元計測点との間の距離の総和が最小になるように対象物体の位置姿勢を決定する位置姿勢決定部と、を備える。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

対象物体の3次元形状を示す形状モデルが既知である当該対象物体の3次元の位置姿勢を計測する位置姿勢計測装置であって、 撮像手段により撮像された前記対象物体までの距離画像を取得する取得手段と、 前記距離画像に基づいて前記対象物体の概略位置姿勢を決定する概略位置姿勢決定手段と、 前記形状モデル上の所定領域に対応する、前記距離画像における領域の前記距離情報のばらつきの程度を示すばらつき値を算出する算出手段と、 前記ばらつき値が小さい程、サンプル点の数が少なくなるように、前記形状モデル上の所定領域ごとに当該所定領域からサンプル点をサンプリングするサンプリング手段と、 前記概略位置姿勢に基づいて、前記サンプル点と、前記距離画像上の2次元計測点を3次元座標に変換した3次元計測点とを対応付ける対応付け手段と、 各サンプル点と各3次元計測点との間の距離の総和が最小になるように前記対象物体の位置姿勢を決定する位置姿勢決定手段と、 を備えることを特徴とする位置姿勢計測装置。

IPC (5件)：

G01B 11/00 ,  G06T 1/00 ,  G01B 11/26 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/60

FI (6件)：

G01B11/00 H ,  G06T1/00 315 ,  G01B11/26 H ,  G06T7/00 300A ,  G06T7/60 150B ,  G06T7/60 150P

Fターム (30件)：

2F065AA03 ,  2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA37 ,  2F065BB05 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065PP25 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR09 ,  5B057AA04 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057DA07 ,  5B057DC08 ,  5B057DC09 ,  5B057DC33 ,  5L096AA09 ,  5L096BA05 ,  5L096FA66 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69