特許

J-GLOBAL ID：201103090554341953

近赤外分光分析装置

発明者： 丸尾 勝彦
出願人/特許権者： パナソニック電工株式会社
代理人 (2件)： 三好 秀和 ,  伊藤 正和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-143529
公開番号（公開出願番号）：特開2011-220994
出願日： 2010年06月24日
公開日（公表日）： 2011年11月04日
要約：

【課題】非侵襲的手法及び侵襲的手法の双方の欠点を解消した近赤外分光分析装置を提供する。【解決手段】数値シミュレーションで作成したシミュレーションスペクトルからなるスペクトルデータセットを作成し、試料を実測して得られる実測スペクトルから定めた基準スペクトルに対する類似性を向上させるように、シミュレーションスペクトルに対して変換操作を行い、変換操作によってシミュレーションスペクトルから得られた変換スペクトルによる変換スペクトルデータセットを作成し、変換スペクトルデータセットを多変量解析することによって検量モデルを作成し、検量モデルを用いて、目的とする成分濃度の定量を行う。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

数値シミュレーションで作成したシミュレーションスペクトルからなるスペクトルデータセットを作成し、 試料を実測して得られる実測スペクトルから定めた基準スペクトルに対する類似性を向上させるように、前記シミュレーションスペクトルに対して変換操作を行い、 前記変換操作によって前記シミュレーションスペクトルから得られた変換スペクトルによる変換スペクトルデータセットを作成し、 前記変換スペクトルデータセットから作成された検量モデルを用いて、目的とする成分濃度の定量を行うことを特徴とする近赤外分光分析装置。

IPC (1件)：

G01N 21/35

FI (1件)：

G01N21/35 Z

Fターム (18件)：

2G059AA01 ,  2G059BB13 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059FF09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ23 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  2G059MM12