特許
J-GLOBAL ID：201103090565402520

情報処理装置の試験装置、情報処理装置の試験装置による試験方法及びプログラム

発明者：
藤巻 修

藤巻 修 について


出願人/特許権者：
エヌイーシーコンピュータテクノ株式会社

エヌイーシーコンピュータテクノ株式会社 について


代理人 (1件)： 松本 正夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-243704
公開番号（公開出願番号）：特開2011-090517
出願日： 2009年10月22日
公開日（公表日）： 2011年05月06日
要約：
【課題】 試験対象命令からランダムに選択された個別命令と、予め生成した試験対象命令から構成される命令列パタンとをランダムに混在させて試験を行うことを可能にする【解決手段】 ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置10であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段を備える。 【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置であって、 複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、前記試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、前記試験手順と前記試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段 を備えることを特徴とする情報処理装置の試験装置。
IPC (2件)：
G06F 11/22 ,  G06F 9/38
FI (3件)：
G06F11/22 310C ,  G06F11/22 310A ,  G06F9/38 380C
Fターム (5件)：
5B013EE08 ,  5B048AA03 ,  5B048CC01 ,  5B048DD03 ,  5B048DD06
引用特許：
出願人引用 (4件)
  • 特開平4-242439
  • 特開平2-115941
  • 特開昭62-203240
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審査官引用 (4件)
  • 特開平4-242439
  • 特開平2-115941
  • 特開昭62-203240
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