特許

J-GLOBAL ID：201103090760720286

位置測定装置

発明者： ヴオルフガング・ホルツアプフエル ,  ウルリッヒ・ベンナー
出願人/特許権者： ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング
代理人 (4件)： 江崎 光史 ,  三原 恒男 ,  奥村 義道 ,  鍛冶澤 實
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-382244
公開番号（公開出願番号）：特開2001-194188
特許番号：特許第4503822号
出願日： 2000年12月15日
公開日（公表日）： 2001年07月19日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 測定尺(10;100)と、測定尺(10;100)に対して相対的に測定方向(x)に移動可能な走査ユニット(20;200)とから成る位置測定装置であって、その際 測定尺(10;100)上に2つの相異なる目盛周期(TP1、TP2)を有するインクリメンタル目盛を有する、測定方向(x)に延びるインクリメンタルトラック(13;130)が配設されており、 走査ユニット(20;200)は、インクリメンタル信号検出器配列(24.1,24.2;240.1)を有し、その際インクリメンタル信号検出器配列(24.1,24.2;240.1)は、第1の粗い信号周期(SP1)を備えたインクリメンタル信号(NC1)の発生のために並びに第2の微細な信号周期(SP2)を有するインクリメンタル信号(INC2)の発生のために設けられることを特徴とする、前記位置測定装置。

IPC (2件)：

G01D 5/347 ( 200 6.01) ,  G01B 11/00 ( 200 6.01)

FI (2件)：

G01D 5/34 D ,  G01B 11/00 A