特許
J-GLOBAL ID:201103091013273226

光拡散板用易接着フィルム及びそれを用いた光拡散板

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): ▲吉▼川 俊雄
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-093253
公開番号(公開出願番号):特開2001-281423
特許番号:特許第4423736号
出願日: 2000年03月30日
公開日(公表日): 2001年10月10日
請求項(抜粋):
【請求項1】 光拡散層が表面に設けられる基材フィルムを、溶液樹脂を押出して冷却固化せしめるにあたり、該樹脂の結晶化が発生する温度域に対し、表面温度が10°C/sec以上の冷却速度でこの温度域を通過せしめて得られた未延仲シートを二軸延伸して得た、異質粒子を含まず、かつ下記測定方法により測定された高さ2μm以上の突起が1平方メートル当たり3個以下で厚さ50μm以上の二軸配向ポリエステルフィルムで形成すると共に、この基材フィルムの少なくとも片面に粒子を含む高分子易接着層を設けてなり、全光線透過率が90%以上であることを特徴とする光拡散板用易接着フィルム。 (測定方法) 突起欠点の検出方法 下記のような検出原理に基づく光学欠点検出装置により、250mm×250mmのフィルム片16枚について、光学的に50μm以上の大きさと認識される光学欠点を検出した。投光器として20W×2灯の蛍光灯をXYテーブル下方400mmに配置し、スリット幅10mmのマスクを設ける。投光器と受光器とを結ぶ線と、測定するフィルム面の鉛直方向とのなす角度を12度に設定して光を入射する。そこに光学欠点が存在すると光り輝く。その光量をXYテーブル情報500mmに配置したCCDイメージセンサカメラで電気信号に変換し、その電気信号を増幅し微分して、スレッシュホールドレベルとコンパレータで比較し、光学欠点の検出信号として出力する。また、CCDイメージセンサカメラから入力されたビデオ信号を画像処理して光学欠点の大きさを計測し、設定された大きさ以上の光学欠点の位置を表示する。かくして検出された突起欠点部分を顕微鏡で観察し、異物による突起欠点および塗布液中の粒子の粗大凝集物による突起欠点を選び出した。 突起の高さ測定方法 上記の方法によって選び出した異物による突起欠点および塗布液中の粒子の粗大凝集物による突起欠点が存在する領域を適当な大きさに切り取り、非接触式三次元粗さ計(マイクロチップ社製550)で突起高さを測定し、1平方メートル当たりの高さ2μm以上の突起数を求めた。
IPC (3件):
G02B 5/02 ( 200 6.01) ,  B32B 7/02 ( 200 6.01) ,  B32B 27/36 ( 200 6.01)
FI (3件):
G02B 5/02 C ,  B32B 7/02 103 ,  B32B 27/36
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 光学用易接着フィルム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-135662   出願人:東洋紡績株式会社
  • 光拡散フイルム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-155343   出願人:株式会社麗光

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