特許

J-GLOBAL ID：201103091822561852

CTシステムで投影データを作成する方法およびシステム

発明者： ピーター・マイケル・エディック ,  アーミン・ホルスト・プフォー
出願人/特許権者： ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
代理人 (1件)： 松本 研一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-118788
公開番号（公開出願番号）：特開2000-321221
特許番号：特許第3377496号
出願日： 2000年04月20日
公開日（公表日）： 2000年11月24日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 X線ビームを検出器アレイおよび少なくとも一つのコリメータに向けて投射するためのX線源を含むコンピュータ断層撮影(CT)システムによってスキャンされる物体の投影データを作成する方法であって、少なくとも一つのコリメータ・プレートを第1の位置から第2の位置まで、若しくは、第2の位置から第1の位置まで移動させるステップと、前記少なくとも一つのコリメータが第1の位置にあるときに、検出器アレイで受け取ったX線ビームの強度を表す第1の信号強度を決定するステップと、前記少なくとも一つのコリメータが前記第1の位置と前記第2の位置の間を移動し、前記コリメータが前記検出器アレイと少なくとも部分的に重なり合うときに、検出器アレイで受け取ったX線ビームの強度を表す第2の信号強度を決定するステップと、前記第1および第2の信号強度を利用して、計測信号のうちの散乱に由来する成分を決定することにより、投影データを作成するステップと、を含んでいる前記方法。

IPC (3件)：

G01N 23/04 ,  A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 350

FI (3件)：

G01N 23/04 ,  A61B 6/03 320 H ,  A61B 6/03 350 K

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特開昭60-063031
  
• 特開昭62-176433
  
• 特開平1-305930
  

審査官引用 (4件)

• 特開昭60-063031
  
• 特開昭60-063031
  
• 特開昭62-176433
  
• 特開昭62-176433