特許

J-GLOBAL ID：201103092532323628

穀粒画像読取装置用試料整列器

発明者： 山本 惣一 ,  荒井 広志
出願人/特許権者： 株式会社山本製作所
代理人 (4件)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  西元 勝一 ,  福田 浩志
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-284995
公開番号（公開出願番号）：特開2003-090800
特許番号：特許第3592278号
出願日： 2001年09月19日
公開日（公表日）： 2003年03月28日
請求項（抜粋）：

【請求項1】底部が透明材料によって構成されると共に穀粒が二次元状に載置可能とされた試料台を画像読取位置に有し、当該試料台の底部に沿って移動可能に設けられかつ穀粒に対して光を照射する光照射部及び穀粒で反射された反射光を受光する受光部を含んで構成された走査手段を備えたスキャナ本体を有する穀粒画像読取装置に適用され、トレイ状に形成され、一粒の穀粒が入り込める程度の大きさを有しかつ略穀粒形状に形成され更に長軸方向が一定方向に向けられた多数の透孔が所定の間隔で穿設された平面視で矩形状の底壁部を備えた試料整列板と、この試料整列板の底壁部が嵌合可能な略枠状に形成された支持体と、この支持体の底部に配置されると共に前記試料台の底部の上面に載置されかつ試料整列板の底壁部が載置される透明板と、を備えた試料整列器本体と、を含んで構成され、前記試料整列板の底壁部の少なくとも一周辺部には、前記透孔が形成されていない余剰粒除去用の無孔部が形成されている、ことを特徴とする穀粒画像読取装置用試料整列器。

IPC (1件)：

G01N 21/85

FI (1件)：

G01N 21/85 A

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 穀類粒観察システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-261001   出願人：社団法人日本精米工業会, 株式会社ケット科学研究所