特許
J-GLOBAL ID:201103093749646510

材料試験機

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 喜多 俊文 (外1名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-331642
公開番号(公開出願番号):特開2002-139412
特許番号:特許第3424668号
出願日: 2000年10月31日
公開日(公表日): 2002年05月17日
請求項(抜粋):
【請求項1】フィルム状の試験片の端部をそれぞれ把持する両チャックと、両チャックを相対的に変位させて引張試験を行なう試験機構と、チャックから試験後の試験片を回収するための試験片回収手段を備えた材料試験機において、前記試験片回収手段を、先端の開口部よりエアーを吸引する吸引管と、この吸引管の先端部を試験片に対して進退させる進退機構と、破断した試験片を吸引にて吸着把持した後退避位置にて吸引を中止し解放させる吸引制御機構と、前記吸引管内に吸い込まれた試験片を回収するダストボックスとによって構成し、試験片が吸引管に吸着した場合には吸引管の進退動作と吸着把持および解放動作によりフィルム状の試験片の回収を行い、試験片が吸引管内に吸い込まれた場合には前記ダストボックスに回収するようにしたことを特徴とする材料試験機。
IPC (1件):
G01N 3/04
FI (1件):
G01N 3/04 N
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (1件)

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