特許
J-GLOBAL ID：201103093761170840

電気部品装着システムおよびそれの精度検査方法

発明者：
河田 東輔

河田 東輔 について


出願人/特許権者：
富士機械製造株式会社

富士機械製造株式会社 について


代理人 (1件)： 神戸 典和
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-343641
公開番号（公開出願番号）：特開2001-223500
特許番号：特許第4562275号
出願日： 2000年11月10日
公開日（公表日）： 2001年08月17日
請求項（抜粋）：
【請求項1】電気部品を保持する部品保持具と、周回する一対のベルトとそれらベルトを案内する一対のガイドレールとを備えて回路基材を搬送する基材コンベヤと、その基材コンベヤにより部品装着位置に搬送された回路基材を支持する基材支持装置と、前記部品保持具に保持された電気部品の少なくとも一部を撮像する第1撮像装置と、前記基材支持装置に支持された回路基材の少なくとも一部を撮像する第2撮像装置とを含み、電気部品を回路基材に装着する電気部品装着システムの装着精度に関連する部分の精度を検査する方法であって、 前記ガイドレールの上面の少なくとも1か所であって前記回路基材と干渉しない部分に載置部を設け、その載置部から前記部品保持具に検査用チップを保持させ、その検査用チップを保持した部品保持具を複数の回転位置へ回転させ、各回転位置において検査用チップの少なくとも一部をそれぞれ前記第1撮像装置により撮像した後、その部品保持具にその検査用チップを前記載置部に載置させ、載置された検査用チップの少なくとも一部を前記第2撮像装置により撮像し、前記複数の回転位置の各々において前記第1撮像装置により撮像された検査用チップの複数の像に基づいて前記部品保持具,前記検査用チップおよび前記第1撮像装置の相対位置ずれである第1相対位置ずれを取得するとともに、前記第2撮像装置による前記検査用チップの撮像結果に基づいて前記検査用チップと前記第2撮像装置との相対位置ずれである第2相対位置ずれを取得し、それら第1および第2相対位置ずれに基づいて、前記部品保持具,前記第1撮像装置および前記第2撮像装置のいずれか1つに対する他の2つの相対位置ずれを取得することを特徴とする電気部品装着システムの精度検査方法。
IPC (2件)：
H05K 13/08 ( 200 6.01) ,  H05K 13/04 ( 200 6.01)
FI (2件)：
H05K 13/08 Q ,  H05K 13/04 Z
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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