特許
J-GLOBAL ID：201103094540901579
光電測光法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
川口 義雄 (外2名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平1-267969
公開番号（公開出願番号）：特開平2-165020
特許番号：特許第3098017号
出願日： 1989年10月13日
公開日（公表日）： 1990年06月26日
請求項（抜粋）：
【請求項1】測光素子として、第1電極と浮動ノードとの間に結合されたフォトトランジスタが、前記浮動ノードと第2電極の間に接続された切換素子を伴って用いられている光電測光法であって、フォトトランジスタが非導通モードでバイアスをかけられ更にフォトトランジスタに生じる光電電荷が浮動ノードに蓄積される測光工程と、切換素子が導通化され、蓄積された電荷が除去される読取り工程とから成り、読取り工程の後、フォトトランジスタを導通化することから成る残留キャリアを消去するための工程が実行され、フォトトランジスタが非結合ベーストランジスタであり、前記残留キャリア消去工程の間のトランジスタの導通化がコレクタ及びエミッタ間に該フォトトランジスタの導通閾値より高い電圧パルスを付与することによって達成される光電測光法。
IPC (4件)：
G01J 1/02
, G01J 1/44
, H01L 31/10
, H04N 5/335
G01J 1/02 B
, G01J 1/44 F
, H04N 5/335 E
, H01L 31/10 A
