特許
J-GLOBAL ID:201103095043971489

半導体装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 鈴江 武彦 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  河井 将次
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-012103
公開番号(公開出願番号):特開2001-203356
特許番号:特許第3884206号
出願日: 2000年01月20日
公開日(公表日): 2001年07月27日
請求項(抜粋):
【請求項1】 第1導電型の半導体基板と、 前記半導体基板の表層部に形成され、前記第1導電型とは逆の第2導電型の半導体層からなるベース領域と、 前記ベース領域の表層部に帯状の平面パターンを有するように形成された第1導電型の複数のソース領域と、 間欠的なストライプ状の平面パターンを有するように前記ソース領域の平面パターン内にのみ配置され、前記ベース領域を貫通する深さまで形成された複数のトレンチと、 前記複数のトレンチの各内壁面に形成されたゲート絶縁膜と、 前記各トレンチの内部に埋め込まれたトレンチゲート電極と、 前記基板上に堆積された層間絶縁膜と、 前記層間絶縁膜に開口されたソース・ベース引き出し用のコンタクトホールを通じて前記ソース領域の表面の一部およびベース領域の表面の一部に共通にコンタクトするソース・ベース電極と、 前記トレンチゲート電極間を電気的に接続する接続部 とを具備することを特徴とする半導体装置。
IPC (4件):
H01L 29/739 ( 200 6.01) ,  H01L 29/78 ( 200 6.01) ,  H01L 29/74 ( 200 6.01) ,  H01L 29/749 ( 200 6.01)
FI (5件):
H01L 29/78 655 G ,  H01L 29/78 655 A ,  H01L 29/78 653 A ,  H01L 29/74 X ,  H01L 29/74 601 A
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開平4-162572

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