特許
J-GLOBAL ID:201103096217566127
形状計測装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
山田 卓二
, 田中 光雄
, 竹内 三喜夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-113924
公開番号(公開出願番号):特開2011-242230
出願日: 2010年05月18日
公開日(公表日): 2011年12月01日
要約:
【課題】従来に比べてパターンの照射範囲を容易に設定可能で、高精度で距離計測が可能な形状計測装置を提供する。【解決手段】形状計測面を撮像する撮像部11と、撮像部からのタイミング信号にて動作制御され、投光パターン15を形状計測面に投影する照射部7と、投光パターンの設定を行う投光パターン設定部51と、投光パターン及び撮像画像により、投光パターンの照射範囲を設定する照射範囲設定部53とを備えた。【選択図】図1
請求項(抜粋):
形状計測面に対して光学的手法によって非接触で3次元形状計測を行う形状計測装置であって、
撮像視野範囲にて上記形状計測面を撮像する撮像部と、
上記撮像部から供給されるタイミング信号にて動作制御されて、上記形状計測面において上記撮像視野範囲を超える投影領域へ投光パターンを投影する照射部と、
上記照射部にて上記形状計測面に投影される上記投光パターンの設定を行う投光パターン設定部と、
上記撮像部から撮像画像が供給され、上記投光パターン設定部にて設定された上記投光パターン及び上記撮像画像により、上記投光パターンの上記形状計測面における照射範囲を設定する照射範囲設定部と、
を備えたことを特徴とする形状計測装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (24件):
2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065DD06
, 2F065FF04
, 2F065FF09
, 2F065FF42
, 2F065GG06
, 2F065HH06
, 2F065HH07
, 2F065JJ03
, 2F065JJ18
, 2F065JJ23
, 2F065JJ26
, 2F065LL04
, 2F065LL13
, 2F065LL15
, 2F065LL26
, 2F065LL62
, 2F065MM16
, 2F065NN02
, 2F065NN08
, 2F065QQ31
, 2F065UU01
, 2F065UU06
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