分岐光掃引検出装置およびWDM光信号スペクトル監視装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：田中香樹 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-105430
公開番号（公開出願番号）：特開2001-290180
特許番号：特許第3394741号
出願日： 2000年04月06日
公開日（公表日）： 2001年10月19日
請求項（抜粋）：

【請求項1】半導体基板の垂直方向に積層された半導体層を利用し、各々所定の間隔をあけて形成された第1の導波路および第2の導波路と、該第1の導波路と第2の導波路の一部を隣接させて形成された光結合部と、該光結合部に形成された波長フィルタとして機能させるための回折格子と、該光結合部の上部の少なくとも一部を被覆する薄膜ヒータ部材と、該波長フィルタにより前記第2の導波路に抽出された光信号を受光する受光素子とを具備し、前記薄膜ヒータ部材に流す電流を可変にすることにより、前記第2の導波路に抽出される光信号の波長を可変にすることを特徴とする分岐光掃引検出装置。

IPC (10件)：

G02F 1/313 , G01J 3/18 , G02B 6/12 , G02B 6/122 , H01L 27/14 , H01S 5/0687 , H04B 10/02 , H04B 17/00 , H04J 14/00 , H04J 14/02

FI (10件)：

G02F 1/313 , G01J 3/18 , H01S 5/0687 , H04B 17/00 G , G02B 6/12 B , G02B 6/12 H , G02B 6/12 F , H01L 27/14 J , H04B 9/00 E , H04B 9/00 U

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