特許
J-GLOBAL ID:201103098009406496

半導体レーザ装置の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 山崎 宏 ,  前田 厚司
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-028554
公開番号(公開出願番号):特開2001-217499
特許番号:特許第3825948号
出願日: 2000年02月07日
公開日(公表日): 2001年08月10日
請求項(抜粋):
【請求項1】 半導体レーザチップを、リードフレーム、ステム、または、サブマウント等のダイボンド面の所定の位置に、導電性ダイボンドペーストを用いてダイボンドした半導体レーザ装置の製造方法において、 前記導電性ダイボンドペーストを前記所定の位置に塗布する工程と、 該塗布した導電性ダイボンドペーストを予備加熱した後に、半導体レーザチップを搭載する工程と を有し、 前記予備加熱の温度は、前記導電性ダイボンドペーストの希釈剤が蒸散し始める温度以上、前記導電性ダイボンドペーストの熱硬化反応開始温度以下とすることを特徴とする半導体レーザ装置の製造方法。
IPC (2件):
H01S 5/022 ( 200 6.01) ,  H01L 21/52 ( 200 6.01)
FI (2件):
H01S 5/022 ,  H01L 21/52 A
引用特許:
出願人引用 (2件)
  • 特開平3-106089
  • 特開昭63-023386
審査官引用 (4件)
  • 特開平3-106089
  • 特開昭63-023386
  • 特開平3-106089
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