特許
J-GLOBAL ID：201103098455851193

ホログラフィックビデオ顕微鏡による粒子の追跡および特徴付け

発明者：
グリアー,デイヴィッド・ジー

グリアー,デイヴィッド・ジー について

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イ,サン-ヒョク

イ,サン-ヒョク について

, 
チョン,フック・チオン

チョン,フック・チオン について


出願人/特許権者：
ニュー・ヨーク・ユニヴァーシティ

ニュー・ヨーク・ユニヴァーシティ について


代理人 (10件)： 奥山 尚一 ,  有原 幸一 ,  松島 鉄男 ,  河村 英文 ,  吉田 尚美 ,  中村 綾子 ,  深川 英里 ,  森本 聡二 ,  角田 恭子 ,  広瀬 幹規
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-531335
公開番号（公開出願番号）：特表2011-502256
出願日： 2008年10月30日
公開日（公表日）： 2011年01月20日
要約：
透明な媒体の中に分散した1つ以上の粒子といった試料の画像を作成するインラインホログラフィである。光散乱理論の結果を用いたこれらの画像の分析により、ナノメートル分解能での粒子のサイズと、1000分の1の範囲内での粒子の屈折率と、ナノメートル分解能での粒子の3次元位置とが得られる。この手順は、試料および試料媒体の力学的特性と、光学的特性と、化学的特性とを迅速かつ直接的に特徴付ける。
請求項（抜粋）：
ホログラフィック顕微鏡を提供するステップと、 コリメートされたレーザビームを前記ホログラフィック顕微鏡に提供するステップと、 コリメートされたレーザビームをある試料から散乱させて、散乱した部分を生成するステップと、 コリメートされたレーザビームのうちの散乱していない部分と前記散乱した部分とから干渉パターンを発生させるステップと、 後の分析のために前記干渉パターンを記録するステップと、 前記試料の空間的位置と、力学的特性と、光学的特性と、化学的特性とのうちの少なくとも一つを測定するステップと を含む、試料を光学的に特徴付ける方法。
IPC (3件)：
G01N 15/00 ,  G02B 21/00 ,  G03H 1/00
FI (3件)：
G01N15/00 A ,  G02B21/00 ,  G03H1/00
Fターム (14件)：
2H052AA04 ,  2H052AB01 ,  2H052AB10 ,  2H052AC05 ,  2H052AC30 ,  2H052AD03 ,  2H052AD27 ,  2H052AE01 ,  2H052AF02 ,  2H052AF11 ,  2H052AF14 ,  2K008AA05 ,  2K008HH01 ,  2K008HH06
引用文献：
審査官引用 (4件)
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