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J-GLOBAL ID：201106075525072406
サイクログラフ
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非破壊試験
関連語 (2件)：
硬度
(hardness)
硬度 について
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歪
(strain)
歪 について
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上位語 (2件)：
欠陥検査
(flaw inspection)
欠陥検査 について
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電磁誘導検査
(electromagnetic induction inspection)
電磁誘導検査 について
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