資源
J-GLOBAL ID:201110004038627720   研究資源コード:5000004348 更新日:2006年01月24日

走査電子顕微鏡

Scanning electron microscope
保有機関:
担当者: 草開 清志
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (4件): 無機化学 ,  分析化学 ,  応用物性・結晶工学 ,  無機材料・物性
概要:
物質の表面の凹凸を正確に観察する装置であり、焦点深度が深く分解能が
高いために加工表面、破断面の観察に優れた性能を発揮します。
本機種は、低真空下で観察する機能をもっており、湿気を帯びた材料、
電子ビームでダメージを受けやすい材料も手軽に観察できる特徴が
あります。
利用手続きと方法:
利用手続きの詳細は、担当者まで問い合わせること
利用者の資格は、本学との共同研究者


前のページに戻る