資源
J-GLOBAL ID:201110013863841300   研究資源コード:5000001846 更新日:2005年02月09日

原子間力顕微鏡

Atomic Force Microscope
保有機関:
担当者: 藤本 博
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (1件): 電子・電気材料工学
概要:
物体表面の形状観察
利用環境と条件:
研究業務の遂行に支障がないこと
利用手続きと方法:
詳細は担当者まで問い合わせること

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