資源
J-GLOBAL ID:201110020651611824   研究資源コード:1000002004 更新日:2005年11月25日

複合表面分析システム

Combined Surface Analysis system
保有機関:
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (1件): 物理化学
概要:
X-線光電子分光法,低速電子回折測定可能な超高真空実験装置
利用環境と条件:
研究・教育の遂行に支障のないこと
利用手続きと方法:
利用希望・問い合わせ等は担当者または、理学部事務室まで問い
合わせること

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