資源
J-GLOBAL ID:201110023190931278   研究資源コード:6000000062 更新日:2007年04月26日

極点図形測定装置

保有機関:
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (4件): 応用物性・結晶工学 ,  薄膜・表面界面物性 ,  機械材料・材料力学 ,  電子デバイス・電子機器
概要:
極点図形測定、X線回折測定によるセラミックス・金属等各種工業材料等の結晶方位・結晶構造等の解析

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