資源
J-GLOBAL ID:201110026621315110   研究資源コード:5000001164 更新日:2005年01月24日

薄膜光学評価装置

Optical measurement apparatus for thin films
保有機関:
担当者: 若松 孝
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (2件): 薄膜・表面界面物性 ,  応用光学・量子光工学
概要:
光波長以下の厚さの金属や有機薄膜の膜厚や光学定数を測定する
光学評価装置を保有している。可視光領域における金属表面
プラズモン共鳴測定法により高感度で高精度に対象薄膜を評価
できる。

前のページに戻る