資源
J-GLOBAL ID:201110039388418430   研究資源コード:1000001722 更新日:2003年02月15日

X線回析装置

X-ray diffraction measurement system
保有機関:
担当者: 神谷 勝義
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (4件): 高分子化学 ,  金属物性 ,  無機材料・物性 ,  複合材料・物性
概要:
X線回析装置
主要目的:諸試料の回析パターンを測定し、物質の同定、
定性・定量分析や分子構造の決定を行う装置
概要は下記URLの「総合実験研究センター」内「第1材料
分析研究室」に掲載している
http://www.kanagawa-it.ac.jp/
利用環境と条件:
研究業務の遂行に支障のないこと
利用手続きと方法:
詳細は担当者まで問合せること

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