資源
J-GLOBAL ID:201110039787331178   研究資源コード:1000000381 更新日:2004年11月10日

LSI試験システム

LSI test system
保有機関:
担当者: 池田 誠
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (1件): 電子デバイス・電子機器
概要:
VLSIチップの測定
利用手続きと方法:
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