資源
J-GLOBAL ID:201110042015099610   研究資源コード:1000001886 更新日:2005年12月13日

XAFS(X線吸収微細構造)(放射光)

XAFS spectrometer
保有機関:
担当者: 小堤 和彦
資源分類: 実験機器、施設等
研究分野 (2件): 物性I ,  応用物性・結晶工学
概要:
この装置は、Si(220)又はGe(220)分光結晶を使用し、
3.4~12.4keVのエネルギー範囲のX線吸収スペクトルを測定できる
ように設計されています。特に4~6keVの領域のスペクトルを容易に
測定できることが大きな特徴です。XANESからは電子構造や化学結合
状態に関する情報が得られ、またEXAFSからはX線吸収原子の周りの
局所構造を決定することができます。
利用環境と条件:
学内の教育・研究に支障のないこと。
利用手続きと方法:
利用手続き:別紙あり
利用料金:有料
利用者の資格:企業利用可

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