資源
J-GLOBAL ID:201110043526553120   研究資源コード:5000004366 更新日:2006年01月24日

電子線マイクロアナライザ

Electron Probe Micro Analysis
保有機関:
担当者: 山田 聖
資源分類: その他
研究分野 (1件): 薄膜・表面界面物性
概要:
電子線マイクロアナライザ 主要目的:固体表面近傍の元素の分布や
結合状態を知るための装置
利用手続きと方法:
・利用手続き 詳細は、担当者まで問い合わせること
・利用料金 有料 ・利用者の資格 センター長が許可した者
・利用上の制約 特になし

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